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Miller / Cerezo / Hetherington

ATOM PROBE FIELD ION MICROSCOP

Medium: Buch
ISBN: 978-0-19-851387-2
Verlag: OXFORD UNIV PR
Erscheinungstermin: 19.09.1996
Lieferfrist: bis zu 10 Tage
This book provides a definitive account of the theory, practice and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. Recent advances in the method,which are largely due to the present authors, now permit the atomic-scale chemistry of a solid specimen to be recognised in three dimensions. As a result of these developments, new and exciting
applications are rapidly emerging in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.

Produkteigenschaften


  • Artikelnummer: 9780198513872
  • Medium: Buch
  • ISBN: 978-0-19-851387-2
  • Verlag: OXFORD UNIV PR
  • Erscheinungstermin: 19.09.1996
  • Sprache(n): Englisch
  • Auflage: Erscheinungsjahr 1996
  • Serie: Monographs on the Physics and Chemistry of Materials
  • Produktform: Gebunden
  • Seiten: 520
  • Format (B x H x T): 164 x 242 x 33 mm
  • Ausgabetyp: Kein, Unbekannt

Autoren/Hrsg.

Autoren

Miller, M. K.

Cerezo, A.

Hetherington, M. G.

Smith FRS, G. D. W.