Structure and Electronic Properties of Ultrathin Dielectric Films on Silicon and Related Structures: Volume 592
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-55899-500-0 (Buch)
- Erscheinungstermin: 17.10.2000
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Degradation Mechanisms in III-V Compound Semiconductor Devices and Structures: Volume 184
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-55899-073-9 (Buch)
- Erscheinungstermin: 25.01.1991
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Materials Issues for Tunable RF and Microwave Devices: Volume 603
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- Verlag: CAMBRIDGE
- ISBN: 978-1-55899-511-6 (Buch)
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Chemistry and Defects in Semiconductor Heterostructures: Volume 148
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-55899-021-0 (Buch)
- Erscheinungstermin: 15.11.1989
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Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-55899-496-6 (Buch)
- Erscheinungstermin: 17.04.2000
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Transistor Scaling
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-55899-869-8 (Buch)
- Erscheinungstermin: 07.11.2006
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Oxide Semiconductors: Volume 1633
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-60511-610-5 (Buch)
- Erscheinungstermin: 14.07.2014
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Microelectromechanical Systems - Materials and Devices
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-55899-990-9 (Buch)
- Erscheinungstermin: 17.03.2008
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Compound Semiconductors
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-60511-515-3 (Buch)
- Erscheinungstermin: 30.01.2014
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Oxide Semiconductors and Thin Films
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- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN: 978-1-60511-471-2 (Buch)
- Erscheinungstermin: 09.01.2014
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