Seite 1 von 4
Anzahl pro Seite
Sortiert nach
Produkte: 35 Seite 1 von 4 Filter
Schaefer

Product Development in the Socio-sphere  

Product Development in the Socio-sphere
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer International Publishing
  • ISBN: 978-3-319-07403-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 03.07.2014
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Quill

Interessengeleitete Unternehmensbewertung  

Interessengeleitete Unternehmensbewertung
69,99 € (inkl. MwSt.) 65,41 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-658-14901-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 21.07.2016
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
69,99 € (inkl. MwSt.) 65,41 € (zzgl. MwSt.)
Behringer

Eine kurze Geschichte der Unternehmensbewertung  

Eine kurze Geschichte der Unternehmensbewertung
39,99 € (inkl. MwSt.) 37,37 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-658-28702-3 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 04.02.2020
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
39,99 € (inkl. MwSt.) 37,37 € (zzgl. MwSt.)
Schaefer

Product Development in the Socio-sphere  

Product Development in the Socio-sphere
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer International Publishing
  • ISBN: 978-3-319-34428-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 03.09.2016
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Gizopoulos

Advances in Electronic Testing  

Advances in Electronic Testing
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4899-8773-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 05.12.2014
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Al-Hashimi / Nicolici

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits  

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5315-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI  

On-Line Testing for VLSI
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI

  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-8132-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1998
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Holfeld / DIN e.V.

Licht und Farbe - Buch mit E-Book  

Licht und Farbe - Buch mit E-Book
67,60 € (inkl. MwSt.) 63,18 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: DIN Media
  • ISBN: 978-3-410-20657-6 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 06.06.2013
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
67,60 € (inkl. MwSt.) 63,18 € (zzgl. MwSt.)
Chen / Cranton / Fihn

Handbook of Visual Display Technology  

Handbook of Visual Display Technology
1818,99 € (inkl. MwSt.) 1699,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-319-14345-3 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 04.11.2016
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
1818,99 € (inkl. MwSt.) 1699,99 € (zzgl. MwSt.)
Iyengar / Chandra

Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip  

Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer Nature Singapore
  • ISBN: 978-1-4020-7119-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.06.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Filter
Anzahl pro Seite
Sortiert nach