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Kester / Liedtka / Chen

The Experimentation Field Book  

The Experimentation Field Book
28,50 € (inkl. MwSt.) 26,64 € (zzgl. MwSt.)
Kester / Liedtka / Chen

The Experimentation Field Book

  • Verlag: Columbia University Press
  • ISBN: 978-0-231-21417-9 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 13.02.2024
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
28,50 € (inkl. MwSt.) 26,64 € (zzgl. MwSt.)
Weerakkody

Research Methods for Media and Communication  

Research Methods for Media and Communication
67,18 € (inkl. MwSt.) 62,78 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Oxford University Press
  • ISBN: 978-0-19-556044-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 27.10.2008
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
67,18 € (inkl. MwSt.) 62,78 € (zzgl. MwSt.)
Kapur

CTL for Test Information of Digital ICs  

CTL for Test Information of Digital ICs
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7293-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.10.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Franco

Design with Operational Amplifers and Analog Integrated Circuits  

Design with Operational Amplifers and Analog Integrated Circuits
58,00 € (inkl. MwSt.) 54,21 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: McGraw-Hill Education - Europe
  • ISBN: 978-0-07-112173-6 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 01.08.2001
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
58,00 € (inkl. MwSt.) 54,21 € (zzgl. MwSt.)
Maly / Khare

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss  

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-9714-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1996
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7205-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.09.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Willoughby

Recording Science in the Digital Era  

Recording Science in the Digital Era
94,50 € (inkl. MwSt.) 88,32 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: RSC Publishing
  • ISBN: 978-1-78801-420-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 22.07.2019
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
94,50 € (inkl. MwSt.) 88,32 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5307-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 12.12.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Gizopoulos

Advances in Electronic Testing  

Advances in Electronic Testing
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-387-29408-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 23.01.2006
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Al-Hashimi / Nicolici

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits  

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5315-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
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