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Gizopoulos

Advances in Electronic Testing  

Advances in Electronic Testing
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4899-8773-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 05.12.2014
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Al-Hashimi / Nicolici

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits  

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5315-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI  

On-Line Testing for VLSI
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI

  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-8132-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1998
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Dutton

Technology CAD ¿ Computer Simulation of IC Processes and Devices  

Technology CAD ¿ Computer Simulation of IC Processes and Devices
235,39 € (inkl. MwSt.) 219,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-9379-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.07.1993
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
235,39 € (inkl. MwSt.) 219,99 € (zzgl. MwSt.)
Thadikaran / Chakravarty

Introduction to IDDQ Testing  

Introduction to IDDQ Testing
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Thadikaran / Chakravarty

Introduction to IDDQ Testing

  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-9945-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.06.1997
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Al-Hashimi / Nicolici

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits  

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7235-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 28.02.2003
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Maly / Khare

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss  

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-9714-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1996
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Kapur

CTL for Test Information of Digital ICs  

CTL for Test Information of Digital ICs
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7293-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.10.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7205-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.09.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
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