Strong and Weak Topology Probed by Surface Science
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-3-658-11810-5 (Buch)
- Erscheinungstermin: 30.01.2016
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UV-VIS and Photoluminescence Spectroscopy for Nanomaterials Characterization
213,99 € (inkl. MwSt.)
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-3-662-50911-1 (Buch)
- Erscheinungstermin: 23.08.2016
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Optical Nano- and Microsystems for Bioanalytics
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-3-642-25497-0 (Buch)
- Erscheinungstermin: 04.02.2012
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UV-VIS and Photoluminescence Spectroscopy for Nanomaterials Characterization
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-3-642-27593-7 (Buch)
- Erscheinungstermin: 06.03.2013
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Optical Nano- and Microsystems for Bioanalytics
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-3-642-44434-0 (Buch)
- Erscheinungstermin: 13.04.2014
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-1-4899-9728-9 (Buch)
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Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-3-662-51997-4 (Buch)
- Erscheinungstermin: 23.08.2016
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-1-4614-2190-0 (Buch)
- Erscheinungstermin: 02.03.2012
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Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
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- ISBN: 978-3-662-53225-6 (Buch)
- Erscheinungstermin: 05.01.2017
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Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-3-662-57122-4 (Buch)
- Erscheinungstermin: 07.07.2018
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