Seite 1 von 2
Anzahl pro Seite
Sortiert nach
Produkte: 21 Seite 1 von 2 Filter
Iyengar / Chandra

Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip  

Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer Nature Singapore
  • ISBN: 978-1-4020-7119-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.06.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Gizopoulos

Advances in Electronic Testing  

Advances in Electronic Testing
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4899-8773-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 05.12.2014
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Al-Hashimi / Nicolici

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits  

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5315-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI  

On-Line Testing for VLSI
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI

  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-8132-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1998
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chen / Cranton / Fihn

Handbook of Visual Display Technology  

Handbook of Visual Display Technology
1818,99 € (inkl. MwSt.) 1699,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-319-14345-3 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 04.11.2016
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
1818,99 € (inkl. MwSt.) 1699,99 € (zzgl. MwSt.)
Stroud

A Designer¿s Guide to Built-In Self-Test  

A Designer¿s Guide to Built-In Self-Test
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7050-1 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.05.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
Simpson / Sheppard

Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis  

Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-8263-8 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.09.1998
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Maly / Khare

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss  

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-9714-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1996
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Kapur

CTL for Test Information of Digital ICs  

CTL for Test Information of Digital ICs
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7293-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.10.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Filter
Anzahl pro Seite
Sortiert nach