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Mondal

Smart Textiles from Natural Resources  

Smart Textiles from Natural Resources
390,50 € (inkl. MwSt.) 364,95 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Elsevier - Health Sciences Division
  • ISBN: 978-0-443-15471-3 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 18.04.2024
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
390,50 € (inkl. MwSt.) 364,95 € (zzgl. MwSt.)
Büttgenbach

Mikrosystemtechnik  

Mikrosystemtechnik
19,99 € (inkl. MwSt.) 18,68 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-662-49772-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 15.11.2016
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
19,99 € (inkl. MwSt.) 18,68 € (zzgl. MwSt.)
Kapur

CTL for Test Information of Digital ICs  

CTL for Test Information of Digital ICs
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7293-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.10.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Moglestue

Monte Carlo Simulation of Semiconductor Devices  

Monte Carlo Simulation of Semiconductor Devices
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer Netherlands
  • ISBN: 978-90-481-4008-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 12.12.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
Lueder

3D Displays  

3D Displays
119,50 € (inkl. MwSt.) 111,68 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Wiley
  • ISBN: 978-1-119-99151-9 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.01.2012
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
119,50 € (inkl. MwSt.) 111,68 € (zzgl. MwSt.)
Maly / Khare

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss  

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-9714-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1996
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7205-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.09.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5307-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 12.12.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Gizopoulos

Advances in Electronic Testing  

Advances in Electronic Testing
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-387-29408-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 23.01.2006
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Scott

Ferroelectric Memories  

Ferroelectric Memories
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-642-08565-9 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 15.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
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