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Sigov
Multilayer Magnetic Nanostructures
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Sigov
Multilayer Magnetic Nanostructures
Verlag:
Springer Nature Singapore
ISBN:
978-981-19-6248-6 (Buch)
Erscheinungstermin:
15.06.2024
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Morenzoni / Amato
Introduction to Muon Spin Spectroscopy
90,94 € (inkl. MwSt.)
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Morenzoni / Amato
Introduction to Muon Spin Spectroscopy
Verlag:
Springer International Publishing
ISBN:
978-3-031-44958-1 (Buch)
Erscheinungstermin:
01.03.2024
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Metzger / Papavassiliou / Day
Lower-Dimensional Systems and Molecular Electronics
213,99 € (inkl. MwSt.)
199,99 € (zzgl. MwSt.)
Metzger / Papavassiliou / Day
Lower-Dimensional Systems and Molecular Electronics
Verlag:
Springer US
ISBN:
978-1-4899-2090-4 (Buch)
Erscheinungstermin:
18.06.2013
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Suhir / Wong / Lee
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging
599,98 € (inkl. MwSt.)
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Suhir / Wong / Lee
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging
Verlag:
Springer US
ISBN:
978-1-4899-7885-1 (Buch)
Erscheinungstermin:
23.08.2016
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Stuerwald
Digital Holographic Methods
160,49 € (inkl. MwSt.)
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Stuerwald
Digital Holographic Methods
Verlag:
Springer International Publishing
ISBN:
978-3-030-00168-1 (Buch)
Erscheinungstermin:
25.10.2018
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Böer
Survey of Semiconductor Physics
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Böer
Survey of Semiconductor Physics
Verlag:
Springer Netherlands
ISBN:
978-94-010-5293-1 (Buch)
Erscheinungstermin:
06.11.2012
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Alford / Mayer / Feldman
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
84,98 € (inkl. MwSt.)
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Alford / Mayer / Feldman
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Verlag:
Springer US
ISBN:
978-1-4419-3980-7 (Buch)
Erscheinungstermin:
29.10.2010
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Pelant / Valenta
Luminescence Spectroscopy of Semiconductors
194,50 € (inkl. MwSt.)
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Pelant / Valenta
Luminescence Spectroscopy of Semiconductors
Verlag:
Oxford University Press, USA
ISBN:
978-0-19-958833-6 (Buch)
Erscheinungstermin:
24.03.2012
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Mascarenhas
Spontaneous Ordering in Semiconductor Alloys
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Mascarenhas
Spontaneous Ordering in Semiconductor Alloys
Verlag:
Springer US
ISBN:
978-1-4613-5167-2 (Buch)
Erscheinungstermin:
05.11.2012
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Alford / Mayer / Feldman
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
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Alford / Mayer / Feldman
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Verlag:
Springer US
ISBN:
978-0-387-29260-1 (Buch)
Erscheinungstermin:
16.02.2007
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