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Al-Hashimi / Nicolici

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits  

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5315-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI  

On-Line Testing for VLSI
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI

  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-8132-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1998
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Iyengar / Chandra

Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip  

Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer Nature Singapore
  • ISBN: 978-1-4020-7119-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.06.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Farzaneh / Chisholm

Insulators for Icing  

Insulators for Icing
211,50 € (inkl. MwSt.) 197,66 € (zzgl. MwSt.)
Farzaneh / Chisholm

Insulators for Icing

  • Verlag: Wiley
  • ISBN: 978-0-470-28234-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 01.10.2009
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
211,50 € (inkl. MwSt.) 197,66 € (zzgl. MwSt.)
Maly / Khare

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss  

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-9714-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1996
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Subrahmanian / Raghavan / Mannes

Indian Mujahideen  

Indian Mujahideen
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Subrahmanian / Raghavan / Mannes

Indian Mujahideen

  • Verlag: Springer International Publishing
  • ISBN: 978-3-319-02817-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 21.11.2013
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Kapur

CTL for Test Information of Digital ICs  

CTL for Test Information of Digital ICs
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7293-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.10.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7205-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.09.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5307-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 12.12.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Dahlgren

The Political Web  

The Political Web
58,84 € (inkl. MwSt.) 54,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer Nature Singapore
  • ISBN: 978-1-137-32637-9 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.08.2013
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
58,84 € (inkl. MwSt.) 54,99 € (zzgl. MwSt.)
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