Seite 1 von 1
Anzahl pro Seite
Sortiert nach
Produkte: 5 Seite 1 von 1 Filter
Boyd

Life-Cycle Assessment of Semiconductors  

Life-Cycle Assessment of Semiconductors
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-1-4419-9987-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 12.10.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Sinclair / Smith / Dahmen

High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183  

High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
41,00 € (inkl. MwSt.) 38,32 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Cambridge University Press
  • ISBN: 978-1-55899-072-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 10.08.1990
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
41,00 € (inkl. MwSt.) 38,32 € (zzgl. MwSt.)
Bendat / Piersol

Random Data  

Random Data
196,50 € (inkl. MwSt.) 183,64 € (zzgl. MwSt.)
Bendat / Piersol

Random Data

  • Verlag: Wiley
  • ISBN: 978-0-470-24877-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 08.02.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
196,50 € (inkl. MwSt.) 183,64 € (zzgl. MwSt.)
Boyd

Life-Cycle Assessment of Semiconductors  

Life-Cycle Assessment of Semiconductors
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-1-4899-9223-9 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 17.09.2014
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Vick / Gonschorek

Electromagnetic Compatibility for Device Design and System Integration  

Electromagnetic Compatibility for Device Design and System Integration
117,69 € (inkl. MwSt.) 109,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-642-42423-6 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 03.12.2014
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
117,69 € (inkl. MwSt.) 109,99 € (zzgl. MwSt.)
  • |
  • 1
  • |
Filter
Anzahl pro Seite
Sortiert nach