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Kapur

CTL for Test Information of Digital ICs  

CTL for Test Information of Digital ICs
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7293-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.10.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Maly / Khare

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss  

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-9714-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1996
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4020-7205-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.09.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Chakrabarty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation  

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5307-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 12.12.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Iyengar / Chandra

Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip  

Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer Nature Singapore
  • ISBN: 978-1-4020-7119-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.06.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Al-Hashimi / Nicolici

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits  

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5315-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI  

On-Line Testing for VLSI
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI

  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-0-7923-8132-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.04.1998
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI  

On-Line Testing for VLSI
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolaidis / Pradhan / Zorian

On-Line Testing for VLSI

  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-5033-8 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 06.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Salcic / Smailagic

Digital Systems Design and Prototyping  

Digital Systems Design and Prototyping
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer Nature Singapore
  • ISBN: 978-0-7923-7920-1 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.10.2000
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
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